Dresden, 16. Februar 2013: Ein Team des sächsischen Forschungsnetzwerkes „Cool Silicon“ hat einen Hybrid-Testchip mit digitalen und analogen Bauelementen in 28-Nanometer-Technologie vorgestellt. Das geht aus einer Mitteilung von Dr. Corrado Carta von der Professur für Schaltungstechnik und Netzwerktheorie der TU Dresden hervor.